Keithley 2520 Оптический измерительный прибор

Система 2520 для испытаний лазерных диодов в импульсном режиме: синхронизированная испытательная система с функциями источника и измерителя для испытаний импульсных и световых (LIV) ВАХ устройств.

Источники-измерители TEC SourceMeter (SMU) 2510 и 2510-AT: обеспечивают точное регулирование температуры модулей лазерных диодов за счёт термоэлектрического охлаждающего устройства.

Особенности источника - измерителя Tektronix 2520

• Активный контроль температуры. Предотвращение изменений температуры, которые могут привести к изменению доминирующей выходной длины волны лазерного диода и, соответственно, наложению сигналов и перекрестным помехам.
• Контроллер TEC 50 Вт. Более высокая скорость тестирования и более широкий диапазон установок температуры по сравнению с другими решениями малой мощности.
• Полностью цифровое ПИД-регулирование .Обеспечение повышенной температурной стабильности и возможность удобной модернизации путем простого изменения микропрограммного обеспечения.
• Автоматическая настройка контура регулирования температуры (2510-AT). Отсутствие необходимости проведения испытаний методом проб и ошибок для определения наилучшей комбинации коэффициентов ПИД-регулирования.
• Широкий диапазон установок температуры (от –50 до +225 °C), высокое разрешение установки (±0,001 °C) и устойчивость (±0,005 °C). Соответствие большей части требований к промышленным испытаниям охлаждаемых оптических компонентов и подузлов.
• Совместимость с различными входами датчиков температуры (термисторов, резистивных датчиков температуры и датчиков интегральных схем). Использование с датчиками температуры, наиболее часто применяемыми для разнообразных модулей лазерных диодов.
• Функция измерения сопротивления переменного тока.Проверка целостности устройства TEC.
• Обнаружение 4-проводного открытого/разомкнутого вывода для элемента обратной тепловой связи. Устранение ошибок определения сопротивления выводов, что уменьшает вероятность ложных отказов или повреждения устройства.

.