Keithley S500 Система параметрического тестирования

Компания Keithley уже больше 40 лет успешно решает эти и другие важные задачи в таких критически важных секторах, как интеграция процессов, мониторинг систем управления процессами, сортировка кристаллов на производственных линиях (например, приёмочные испытания пластин или тестирование с использованием эталонных кристаллов), а также надёжность устройств.

Интегрированные системы тестирования S500 — это конфигурируемые системы приборов, предназначенные для определения характеристик полупроводников на уровне устройства, пластины или кассеты. Разработанные на основе проверенного оборудования, интегрированные системы тестирования S500 обеспечивают новаторские возможности измерений и гибкость системы, масштабируемой в соответствии с задачами заказчика. Уникальные возможности измерений и мощное программное обеспечение Automated Characterization Suite (ACS) обеспечивают широчайший диапазон применения и возможностей, недостижимый для других аналогичных систем на рынке.

Характеристики S500

• Технические характеристики полнофункционального источника-измерителя (SMU), включая измерения в субфемтоамперном диапазоне, обеспечивают широкий диапазон измерений почти на любом устройстве.
• Генерация импульсов и измерение вольт-амперных характеристик в импульсном режиме для тестирования памяти, накачки заряда, анализа количества ловушек заряда, предотвращения саморазогрева (импульсный режим со свипированием).
• Мало- или многоканальные системы, включая параллельное тестирование, с масштабируемыми системными источниками-измерителями Keithley.
• Высоковольтные, сильноточные и высокомощные источники-измерители для тестирования таких устройств, как мощные полевые МОП-транзисторы и устройства управления дисплеем.
• Коммутаторы, платы пробников и кабели обеспечивают полное подключение системы к проверяемому устройству.